簡(jiǎn)要描述:X熒光電鍍層膜厚測(cè)試儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
多測(cè)試層數(shù) | 5層 | 儀器外觀尺寸 | 576(W)×495(D)×545(H)?mm |
工作環(huán)境溫度 | 15℃-30℃ | 分析含量 | ppm到99.9%? |
元素分析范圍 | 硫(S)到鈾(U) |
X熒光電鍍層膜厚測(cè)試儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
X熒光電鍍層膜厚測(cè)試儀型號(hào):Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
鍍層測(cè)厚儀主要功能
1、測(cè)量:?jiǎn)翁筋^全量程測(cè)厚,儀器自動(dòng)補(bǔ)償偏差值。
2、數(shù)據(jù)管理: 通過分組的方式來管理存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。一共分6組,每組包含99個(gè)數(shù)據(jù)。 可以對(duì)任意一組數(shù)據(jù)進(jìn)行查看、刪除、打印以及通信操作。
3、測(cè)量模式:包括常規(guī)測(cè)量模式和監(jiān)控測(cè)量模式兩類測(cè)量模式??梢栽诓煌墓ぷ鳜F(xiàn)場(chǎng)下給用戶提供不同的使用方式,以解決現(xiàn)場(chǎng)的需求。
a、常規(guī)測(cè)量
測(cè)量時(shí)儀器只顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的基本信息,能夠滿足用戶最基本的測(cè)量需要。
b、最小值捕捉
測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí),儀器會(huì)自動(dòng)捕捉到最小的測(cè)量值。如果工廠驗(yàn)收以樣品的最小厚度值為檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的話,那么這種測(cè)量模式無疑是選擇。
c、統(tǒng)計(jì)測(cè)量
在這種模式下,儀器的功能欄里會(huì)同時(shí)顯示出測(cè)量數(shù)據(jù)的值、最小值、平均值、測(cè)量次數(shù)。給用戶提供更加直觀和方便的數(shù)據(jù)分析,進(jìn)而對(duì)現(xiàn)場(chǎng)工件的優(yōu)劣情況進(jìn)行實(shí)時(shí)的觀測(cè)。
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