簡(jiǎn)要描述:X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀-膜厚儀是集多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)??蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-20萬(wàn) |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,航天,汽車(chē),綜合 |
分辨率 | 140EV |
X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀-膜厚儀 :
X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀-膜厚儀是集多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
X射線(xiàn)熒光法,β射線(xiàn)反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,測(cè)量范圍較小,X射線(xiàn)法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。
β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后,采用X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車(chē)制造
貴金屬鍍飾......
X熒光射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤(pán)不再成為必須,極大減少您擺放樣品的時(shí)間。
全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的精準(zhǔn)測(cè)試。
硬件配置
采用高分辨率的SDD探測(cè)器,分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓,讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。
配備微聚焦的X光管,猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。
軟件界面
人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。曲線(xiàn)的中文備注,讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,讓您的使用更加放心
鍍層測(cè)厚儀主要功能
1、測(cè)量:?jiǎn)翁筋^全量程測(cè)厚,儀器自動(dòng)補(bǔ)償偏差值。
2、數(shù)據(jù)管理: 通過(guò)分組的方式來(lái)管理存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。一共分6組,每組包含99個(gè)數(shù)據(jù)。 可以對(duì)任意一組數(shù)據(jù)進(jìn)行查看、刪除、打印以及通信操作。
3、測(cè)量模式:包括常規(guī)測(cè)量模式和監(jiān)控測(cè)量模式兩類(lèi)測(cè)量模式??梢栽诓煌墓ぷ鳜F(xiàn)場(chǎng)下給用戶(hù)提供不同的使用方式,以解決現(xiàn)場(chǎng)的需求。
a、常規(guī)測(cè)量
測(cè)量時(shí)儀器只顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的基本信息,能夠滿(mǎn)足用戶(hù)最基本的測(cè)量需要。
b、最小值捕捉
測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí),儀器會(huì)自動(dòng)捕捉到最小的測(cè)量值。如果工廠驗(yàn)收以樣品的最小厚度值為檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的話(huà),那么這種測(cè)量模式無(wú)疑是選擇。
c、統(tǒng)計(jì)測(cè)量
在這種模式下,儀器的功能欄里會(huì)同時(shí)顯示出測(cè)量數(shù)據(jù)的值、最小值、平均值、測(cè)量次數(shù)。給用戶(hù)提供更加直觀和方便的數(shù)據(jù)分析,進(jìn)而對(duì)現(xiàn)場(chǎng)工件的優(yōu)劣情況進(jìn)行實(shí)時(shí)的觀測(cè)。
主要分為磁性金屬鍍層測(cè)厚儀、電渦流金屬鍍層測(cè)厚儀,X射線(xiàn)金屬鍍層測(cè)厚儀三類(lèi)測(cè)量方法。
金屬鍍層測(cè)厚儀是一種對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器,測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等(在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為覆層(coating))。 覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
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