臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀

簡(jiǎn)要描述：臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀是國(guó)家剛頒布的《電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》的簡(jiǎn)稱。顧名思義，RoHS檢測(cè)儀是一種檢測(cè)ROHS的檢測(cè)儀，原理是利用X射線檢測(cè)ROHS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中的元素的含量

產(chǎn)品型號(hào)：EDX1800E
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-09-24
訪問量：333

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詳細(xì)介紹

品牌	SKYRAY/天瑞儀器	應(yīng)用領(lǐng)域	地礦,電子,紡織皮革,電氣,綜合
儀器重量	45KG	元素分析范圍	硫（S）~?鈾（U）
分析含量	ppm?~?99.99％	能量分辨率	144±5eV
儀器尺寸	550mm×410mm×320mm

臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀EDX1800B：

ROHS指令，歐洲RoHS 2011/65/EU要求檢測(cè)的項(xiàng)目為6項(xiàng)，指令生效為RoHS指令。

RoHS檢測(cè)項(xiàng)目有鉛(Pb)，鎘(Cd)，汞(Hg)，六價(jià)鉻(Cr6+)，多溴聯(lián)苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。關(guān)于DIBP，BBP,DBP,DEHP等項(xiàng)目該指令僅提到在后續(xù)優(yōu)先評(píng)估是否列入管控，未強(qiáng)制要求生產(chǎn)商進(jìn)行檢測(cè)。針對(duì)EDX 1800在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安防護(hù)等級(jí)的需求，特別設(shè)計(jì)該款EDX 1800B。應(yīng)用新代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的性；利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。

臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域：

RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀

性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的性
新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
檢測(cè)75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新代光管良好的屏蔽作用，X射線的輻射水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您方位防護(hù)

ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：

nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）

式中，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。

能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：

Q=kE

式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。

待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

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