簡(jiǎn)要描述:X射線(xiàn)電鍍層膜厚儀高性?xún)r(jià)比型膜厚儀全新下照式設(shè)計(jì)、性?xún)r(jià)比高、適用性強(qiáng),輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測(cè),且能自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)??蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-20萬(wàn) |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,航天,汽車(chē),綜合 |
分辨率 | 140EV |
X射線(xiàn)電鍍層膜厚儀多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)??蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
X射線(xiàn)電鍍層膜厚儀是一種對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器,測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等(在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為覆層(coating))。 覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車(chē)制造
貴金屬鍍飾......
性能介紹
1)搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線(xiàn)發(fā)生器和*光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)
2)擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù),手動(dòng)變焦功能,可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-30mm
3)核心EFP算法,可對(duì)多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準(zhǔn)檢測(cè)第一層Ni和第三層Ni的厚度)
4)配備高精密微型移動(dòng)滑軌,可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位、多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)
5)可同時(shí)分析23個(gè)鍍層,24種元素,測(cè)量元素范圍:氯Cl(17)- 鈾U(92),涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92),涂鍍層檢出限:0.005μm
6)人性化封閉軟件,自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作
7)配有微光聚集技術(shù),最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度10%
X光譜電鍍層膜厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤(pán)不再成為必須,極大減少您擺放樣品的時(shí)間。
全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的精準(zhǔn)測(cè)試。
硬件配置
采用高分辨率的SDD探測(cè)器,分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓,讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。
配備微聚焦的X光管,猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。
工作原理:
根據(jù)熒光譜線(xiàn)元素能量位置以及其強(qiáng)度確定鍍層的組成以及厚度。
用X熒光光譜儀測(cè)試金屬鍍層精確,測(cè)試范圍廣,并且細(xì)微的面積以及超薄的鍍層都可以測(cè)試。
綜上所述,對(duì)于金屬電鍍鍍層的膜厚測(cè)試,X射線(xiàn)熒光是快速無(wú)損檢測(cè)電鍍膜厚的*。
X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)經(jīng)物質(zhì)照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)
此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái),而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。
熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測(cè)量?jī)x的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度
來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量及分析.
軟件界面
人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。曲線(xiàn)的中文備注,讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,讓您的使用更加放心。
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