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手持金屬鍍層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述:手持金屬鍍層測(cè)厚儀-可準(zhǔn)確檢測(cè)各種貴金屬合金、高低合金鋼、不銹鋼、工具鋼、鉻/鉬鋼、鎳合金、鈷合金、鎳/鈷耐熱合金、鈦合金、銅合金、青銅、鋅合金、鎢合金等,無(wú)損檢測(cè),1秒鐘即可知曉材料的成分及合金牌號(hào)。還可對(duì)鋁、鎂輕合金牌號(hào)進(jìn)行快速鑒定,并可對(duì)材料進(jìn)行可靠性鑒別(PMI)和確認(rèn),掌控材料品質(zhì)。

  • 產(chǎn)品型號(hào):EXPLORER 5000
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-09-07
  • 訪  問(wèn)  量:209
詳細(xì)介紹
品牌SKYRAY/天瑞儀器應(yīng)用領(lǐng)域地礦,建材,電子,汽車(chē),電氣
重量1.7KG

手持金屬鍍層測(cè)厚儀是一種光譜分析儀,手持式金屬分析儀體積小重量輕,方便攜帶,適合現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè)分析。具有快速測(cè)試,分析準(zhǔn)確,質(zhì)量耐用等優(yōu)勢(shì),適合于金屬回收,金屬冶煉,金屬制品,合金材料,有色金屬,三元催化,鋰電池回收,不銹鋼行業(yè),銅合金行業(yè)等。

手持金屬鍍層測(cè)厚儀適用于各種純銅、鑄造銅合金、銅合金材料中的銅、鐵、錫、鋅、鉛、錳、鎳、磷、硅等元素測(cè)定
2、采用新有色金屬分析技術(shù),為有色金屬(冶煉)加工企業(yè)而量身設(shè)定,可直接分析出銅合金中銅的全含量。
3、采用精密觸摸鍵盤(pán),32鍵音響提示,設(shè)計(jì)多種快捷功能鍵,操作*為簡(jiǎn)便;
4、采用微機(jī)控制及數(shù)據(jù)處理,含量數(shù)顯直讀,儀器內(nèi)置微型打印機(jī),結(jié)果自動(dòng)打印(包括日期、元素符號(hào)、含量、吸光度);
5、儀器設(shè)計(jì)合理,變更單色光源、比色杯、,稱(chēng)樣量可擴(kuò)展測(cè)量元素和擴(kuò)大含量范圍。
在貴金屬行業(yè) 可檢測(cè)飾、珠寶、黃金等飾品中的Au,Ag,Cd,Co,Cr,Cu,Fe,In,Ir,Mn,Ni,Pb,Pd,Pt,Rh,Ru,Sb,Sn,Ti,Zn等元素,手持式金屬分析儀提供了一個(gè)準(zhǔn)確和可靠的解決方案進(jìn)行分析黃金和其他貴重金屬樣品的工具??梢苑奖愕販y(cè)量?jī)x的珠寶樣品的形狀和大小。操作簡(jiǎn)單,無(wú)損,是分析黃金和其他貴金屬的理想工具。

手持金屬鍍層測(cè)厚儀開(kāi)放式工作曲線,可以根據(jù)需求建立新工作區(qū)
經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法和基本參數(shù)法相結(jié)合
測(cè)試樣品:各種不同形狀樣品,滿足大樣品測(cè)試需求
性能:迷宮式設(shè)計(jì),達(dá)到輻射指標(biāo)
測(cè)試操作簡(jiǎn)單,實(shí)現(xiàn)傻瓜式操作模式
報(bào)告模板多樣化,適應(yīng)各種測(cè)試需求

手持金屬鍍層測(cè)厚儀具有時(shí)間顯示功能,可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)將檢測(cè)樣品時(shí)間記錄與保存。
可儲(chǔ)存百萬(wàn)組測(cè)試數(shù)據(jù)(將檢測(cè)樣品時(shí)間、地點(diǎn)、各類(lèi)養(yǎng)分結(jié)果)等相關(guān)信息存儲(chǔ)下來(lái),數(shù)據(jù)可隨時(shí)調(diào)出查看。
可打印出檢測(cè)日期、樣品編號(hào),檢測(cè)項(xiàng)目、樣品含量等相關(guān)信息,內(nèi)容詳細(xì)豐富。
采用液晶高清彩色屏幕背光顯示,中文菜單提示操作,操作流程。
測(cè)試過(guò)程中具有回看功能,因此使產(chǎn)品*加具有方便性和合理性。
便捷:電腦一體機(jī)、集成工業(yè)計(jì)算機(jī),雙觸摸屏顯示設(shè)計(jì),操作流暢便捷
快速:3秒內(nèi)可對(duì)樣品定性識(shí)別,60秒內(nèi)可得出測(cè)試結(jié)果
直觀:高清晰圖形即時(shí)顯示,檢測(cè)結(jié)果直觀明了
:加裝防裝置,主動(dòng)保護(hù)操作人員
經(jīng)濟(jì):價(jià)格便宜,測(cè)試過(guò)程基本不需要任何耗材

手持金屬鍍層測(cè)厚儀



便攜金屬合金分析儀器是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。

儀器特點(diǎn):

——便攜、高效、準(zhǔn)確可以在質(zhì)量控制、材料分類(lèi)、合金鑒別、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用。
——選配小點(diǎn)瞄準(zhǔn)模式,可檢測(cè)被檢測(cè)面積較小的樣品,如:焊點(diǎn)、焊縫。
——高性能硅漂(SDD)探測(cè)器(25平方毫米),即可分析Mg、Al、Si、P等輕元素。



手持金屬鍍層測(cè)厚儀




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