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IC芯片缺陷檢測使用X-RAY無損檢測設(shè)備效率高

瀏覽次數(shù):1305發(fā)布日期:2021-08-04

IC芯片,中文可理解為集成電路,是將大量的微電子元器件(晶體管、電阻、電容量、晶振二極管等等)形成的集成電路放在一塊基板上,做成一塊芯片。IC芯片比較常見的便是我們常用的數(shù)碼電子產(chǎn)品中,如電視、電腦、手機(jī)中的芯片都可以叫做IC芯片。

芯片是智能設(shè)備的核心,就如同汽車的發(fā)動機(jī)一樣,對整個產(chǎn)品起著關(guān)鍵性的作用。因此,IC芯片的質(zhì)量對整個電子產(chǎn)品的作用非常大,它影響著整個產(chǎn)品上市后的質(zhì)量問題。一般企業(yè)為了確保IC芯片是否存在質(zhì)量問題,通常會對IC芯片進(jìn)行檢測,市場上多采用X光檢查機(jī)來進(jìn)行質(zhì)量鑒定。

但集成電路是一種比較精密的電子元器件,將所需要用到的電子元器件(晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件)封裝在一個管殼內(nèi),成為電路所需的功能性微型結(jié)構(gòu)體,結(jié)構(gòu)越精密,檢測難度越大。

IC芯片X-RAY檢測設(shè)備是專門為IC芯片做透視檢測其內(nèi)部缺陷的一款無損檢測設(shè)備,它是IC芯片缺陷檢測的方式之一。

X射線檢測儀主要依靠內(nèi)部X光管發(fā)射X射線照射IC芯片成像,X射線穿透物體后,數(shù)字平板器接收圖像信號,進(jìn)而傳輸至電腦,軟件處理后,在屏幕上實時成像。





X-RAY檢測對IC芯片是屬于無損檢測范疇,檢測完的樣品可以再次投入使用,這樣有效地節(jié)約了解生產(chǎn)檢驗成本。

AX8200是日聯(lián)在2010年年末應(yīng)廣大客戶的需求推出的大容量高分辨率高放大倍率的全新X-RAY檢測系統(tǒng)。良好的檢測效果適用于大型線路板上面的BGA、CSP、倒裝芯片檢測、半導(dǎo)體、封裝元器件、電子連接器模組檢測、印刷電路板焊點檢測、陶瓷制品、太陽能電池板電池行業(yè)等特殊行業(yè)檢測。對于大型線路板和大型面板(可放相同的模塊)可以進(jìn)行數(shù)控編程而自動檢測精度和重復(fù)精度高。

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產(chǎn)品特點: 


設(shè)備具備高性價比,支持靈活選配增強(qiáng)器高清FPD

系統(tǒng)擁有600X放大倍率,可實現(xiàn)高清實時成像

用戶界面友好,功能多樣,支持結(jié)果圖示化

      ●支持選配CNC高速跑位自動測算功能


產(chǎn)品應(yīng)用:
●pcba焊點檢測(BGA 、CSP 、POP等元器件檢測)
●電池(極片焊點缺陷檢測、電芯繞卷情況檢測)
●電子接插件(線束、線纜、插頭等)
●汽車電子(接插線、儀表盤等檢測)
●太陽能、光伏(硅片焊點檢測)
●半導(dǎo)體(封裝元器件檢測)
●LED檢測
●電子模組檢測
●陶瓷制品檢測


標(biāo)準(zhǔn)配置
●4/2(選配6寸)像增強(qiáng)器和百萬像素數(shù)字相機(jī);
●90KV5微米的X射線源;
●簡單的鼠標(biāo)點擊操作編寫檢測程序;
●檢測重復(fù)精度高;
●正負(fù)60度旋轉(zhuǎn)傾斜,允許*視角檢測樣;
●高性能的載物臺控制;
●超大導(dǎo)航視窗-容易定位和識別不良品;
●自動BGA檢測程序準(zhǔn)確檢測每一個BGA的氣泡,根據(jù)客戶需求進(jìn)行判定并輸出Excel報表。


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