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半導(dǎo)體X射線檢測設(shè)備由無錫日聯(lián)科技股份有限公司研發(fā)生產(chǎn)銷售,日聯(lián)科技成立于2002年，是從事精密 X 射線技術(shù)研究和 X 射線智能檢測裝備研發(fā)，該技術(shù)和裝備廣泛應(yīng)用于電子半導(dǎo)體、鋰電新能源、工業(yè)無損探測、公共安全及航天* 等高科技行業(yè)，國內(nèi)多項(xiàng)技術(shù)空白。 產(chǎn)品特點(diǎn)： ◆ CNC定位編程 ◆ 實(shí)時(shí)檢測 ◆ 豁免認(rèn)證 ◆ IC封裝檢測

X射線半導(dǎo)體在線檢測設(shè)備是日聯(lián)科技為滿足客戶對(duì)X射線檢測的需求，推出的一款外形美觀、檢測區(qū)域大、分辨率強(qiáng)、放大倍率高的全新在線式X-Ray檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用封閉式射線源和平板探測器作為核心部件，具備良好的檢測效果。適用于半導(dǎo)體、封裝元器件、電子連接器模組檢測、光伏行業(yè)等特殊行業(yè)的檢測。

X射線數(shù)字成像實(shí)時(shí)檢測系統(tǒng)為 X 射線技術(shù)研究和 X 射線智能檢測裝備研發(fā)的日聯(lián)科技生產(chǎn)銷售,日聯(lián)科技是微聚焦X-RAY研發(fā),x光安檢機(jī),工業(yè)探傷機(jī),x-ray檢測,車輛檢測設(shè)備,x射線機(jī)的生產(chǎn),銷售為一體的檢測設(shè)備*企業(yè).

圓柱電池X-Ray在線檢測設(shè)備日聯(lián)科技致力于走路線，目前“UNICOMP”在國內(nèi)外已經(jīng)名聲斐然。客戶包括松下、三星、富士康、博世、索尼、飛利浦、偉創(chuàng)力、比亞迪、TCL、中興、寧德時(shí)代、寶馬、奧迪、特斯拉、一汽大眾、中科、ABB、東方電氣、“四通一達(dá)”等眾多國際公司，并已在國內(nèi)公安、司法、郵政、交通等公共安全領(lǐng)域全面使用。

桌上型X-RAY射線檢查機(jī)微焦點(diǎn)X-RAY透視檢測設(shè)備是集現(xiàn)代無損檢測、計(jì)算機(jī)軟件技術(shù)、圖像采集處理技術(shù)、機(jī)械傳動(dòng)技術(shù)為一體，涵蓋了光、機(jī)、電和數(shù)字圖像處理四大類技術(shù)領(lǐng)域，通過不同材料對(duì)X射線的吸收差異，對(duì)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像然后進(jìn)行內(nèi)部缺陷檢測。

X射線檢測設(shè)備 3D離線X光機(jī)檢測系統(tǒng)日聯(lián)科技憑借精深的專業(yè)知識(shí)，多年豐富經(jīng)驗(yàn)和全面深入研究，日聯(lián)科技已成功研發(fā)并規(guī)模生產(chǎn)用于公共安全檢測X-ray、鋰電池在線檢測的LX系列X-ray裝備、用于半導(dǎo)體及電子裝配檢測的AX系列X-ray裝備、通道式異物及安全檢測的UN系列X-ray裝備、SC系列特種清洗設(shè)備及非標(biāo)自動(dòng)化產(chǎn)品定制。此

LED X射線檢測設(shè)備 工業(yè)ct無損檢測公司秉承誠信、開拓、精益求精的經(jīng)營宗旨，正在為偉創(chuàng)力、富士康、三星、飛利浦、通用、博世、艾默生、德爾福、ABB、比亞迪、寶馬、奧迪、大眾、特斯拉、中興、松下能源、索尼、波士頓、新能源、比克、欣旺達(dá)、國軒、光宇、中科院、航空八院、萬裕、艾天、空間電源研究所、泰盟、韻達(dá)速遞、優(yōu)速快遞、圓通速遞等眾多國際公司服務(wù)。

在線X-RAY檢測設(shè)備 工業(yè)CT代檢測服務(wù)是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無法以外觀方式檢測的位置，利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域。

3D在線X射線自動(dòng)檢查設(shè)備x-ray無損探傷檢測設(shè)備是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無法以外觀方式檢測的位置，利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域。